Кыргызпатент принял участие в семинаре по регистрации промышленных образцов ВОИС
В ноябре в Женеве (Швейцария) представители Кыргызпатента приняли участие в семинаре по Гаагской системе международной регистрации промышленных образцов, который был организован Всемирной организацией интеллектуальной собственности (ВОИС).
Как сообщает пресс-служба Кыргызпатента, в рамках заседания был утвержден проект доклада I сессии специальной рабочей группы по правовому развитию Гаагской системы международной регистрации промышленных образцов, организованной ВОИС 30 мая-1 июня 2011 года.
Указывается, что на семинаре, проведенном сотрудниками ВОИС, рассматривались процедуры подачи международной заявки, вопросы проведения экспертизы и регистрации промышленных образцов.
Следующая сессия рабочей группы запланирована на 2013 год, говорится в сообщении.
